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網(wǎng)絡(luò)測(cè)試導(dǎo)通閾值:0.5/1/2,實(shí)時(shí)聲音提示測(cè)試結(jié)果;首先我們介紹第一步,電路維護(hù)測(cè)試儀測(cè)試集成IC功能的流程:基于集成IC器件庫(kù),施加測(cè)試信號(hào)進(jìn)行測(cè)試對(duì)于集成IC的每個(gè)輸入引腳,集成IC輸出信號(hào)為提取并與理論值進(jìn)行比較。測(cè)試軟件包括通用集成IC器件庫(kù),如74系列、4000系列、模擬集成IC器件系列、電壓比較器系列等。
V-I-F曲線三維動(dòng)態(tài)阻抗測(cè)試方法:徹底消除VI曲線測(cè)試盲區(qū),覆蓋電路節(jié)點(diǎn)頻域阻抗故障; IC測(cè)試方式:在線測(cè)試,如果OPA工作在線性區(qū),可以自動(dòng)計(jì)算放大率(Av);
ZL5050電路在線維護(hù)測(cè)試儀具有模擬和數(shù)字電路的在線/離線功能測(cè)試。三維V-I-F動(dòng)態(tài)阻抗測(cè)試大大提升了測(cè)試的廣度和深度。它集成了多功能儀器工作站和隔離可編程電源,可測(cè)量多種電氣參數(shù)。它提供了完整的手段,是一種高性價(jià)比的電路板故障診斷設(shè)備。數(shù)字測(cè)試通道:128通道,適用于64針+5V數(shù)字器件的雙板功能測(cè)試/型號(hào)識(shí)別;
電容參數(shù)測(cè)試范圍:可覆蓋103~47000F(掃描點(diǎn)數(shù):1024點(diǎn)/周期,掃描周期:48.4~3020ms);由于這種測(cè)試方法的過程是在線路的兩個(gè)節(jié)點(diǎn)之間注入一定范圍和頻率的周期信號(hào),從而在顯示坐標(biāo)上形成電流隨電壓變化的函數(shù)曲線,因此稱為vi曲線。
模擬器件測(cè)試庫(kù)包含數(shù)千種器件;可對(duì)放大器、比較器、二極管、晶體管、晶閘管、場(chǎng)效應(yīng)管、光耦器件、AD、DA數(shù)模轉(zhuǎn)換器件等模擬集成電路進(jìn)行功能測(cè)試;電路板/元件圖片數(shù)據(jù)庫(kù)建設(shè)可添加文字描述、照片、Office、PDF文檔、網(wǎng)頁(yè)鏈接、音視頻等信息;由于單一坐標(biāo)系下的VI曲線測(cè)試存在盲點(diǎn),5坐標(biāo)系下的5CVI曲線可以消除VI曲線測(cè)試問題的盲點(diǎn)。
由于VI曲線測(cè)試不屬于器件功能測(cè)試,因此不受集成IC器件庫(kù)的限制。通過比較電路板(或器件)上相同節(jié)點(diǎn)之間的VI曲線,可以找到阻抗特性發(fā)生變化的節(jié)點(diǎn),從而識(shí)別出故障元件。
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